Cerón, S., Hernandez, J., & Dominguez, M. (2016). Caracterización de capacitores MOS basados en películas de óxido de hafnio obtenidas a 150$^∘$C. Revista Mexicana De Física, 62(6), 600–603. https://doi.org/10.31349/RevMexFis.62.6.600