Aspiazu, J. and Heitz, C. (1995) “Determinación de la eficiencia de detección de un Si(Li) por PIXE y RBS”, Revista Mexicana de Física, 42(3), pp. 384–394. Available at: https://rmf.smf.mx/ojs/index.php/rmf/article/view/2580 (Accessed: 5 July 2024).