Cerón, S., Hernandez, J. and Dominguez, M. (2016) “Caracterización de capacitores MOS basados en peliculas de oxido de hafnio obtenidas a 150$^{\circ}$C”, Revista Mexicana de Física, 62(6 Nov-Dec), pp. 600–0. Available at: https://rmf.smf.mx/ojs/index.php/rmf/article/view/400 (Accessed: 4 July 2024).