Cerón, S., Hernandez, J. and Dominguez, M. (2016) “Caracterización de capacitores MOS basados en películas de óxido de hafnio obtenidas a 150$^∘$C”, Revista Mexicana de Física, 62(6), pp. 600–603. doi: 10.31349/RevMexFis.62.6.600.