Ramajo, L. A., E. Villegas, and R. Parra. “Métodos De medición De Espesores De películas Delgadas Basadas En óxidos Semiconductores”. Revista Mexicana De Física, vol. 64, no. 4 Jul-Aug, June 2018, pp. 364-7, doi:10.31349/RevMexFis.64.364.