Cerón, S., J. Hernandez, and M. Dominguez. “Caracterización De Capacitores MOS Basados En películas De óxido De Hafnio Obtenidas a 150$^∘$C”. Revista Mexicana De Física, vol. 62, no. 6, Jan. 2016, pp. 600-3, doi:10.31349/RevMexFis.62.6.600.