Uso de un osciloscopio para medir la longitud de onda de un diodo láser por difracción de la luz

J. M. Alvarado Reyes, A. Santos Aguilar, C. M. S. Reimer López

Abstract


El estudio de la refracción de la luz es un fenómeno estudiado en los laboratorios de óptica de la carrera de física e ingeniería y profesiones afines. El estudio, la instrumentación y la técnica han variado muy poco desde hace décadas, por consiguiente, el error de medición sigue siendo los mismos. Entre las variables que se miden directamente durante el desarrollo y estudio de dicho fenómeno se encuentran: La distancia entre la rejilla de difracción y la pantalla donde se proyecta el fenómeno de difracción (D), una segunda medida es la longitud entre un máximo de intensidad de luz hasta donde comienza a incrementar la intensidad del segundo punto luminoso consecutivo (y), y una tercera variable es la medición indirecta del ancho de la rejilla de difracción (a). De los parámetros mencionados es la distancia y la que ocasiona mayor incertidumbre en el resultado dado que esta variable es dependiente del observador o experimentador. En este trabajo se presenta una propuesta innovadora en donde este valor es posible evaluarlo directamente de una gráfica cuyos datos son adquiridos empleando un osciloscopio; los resultados obtenidos mediante el procedimiento descrito en el presente trabajo proporcionan además de resultados con menor incertidumbre, muestran el comportamiento de intensidades de la luz difractada.

Keywords


Difracción; Osciloscopio; Longitud de onda.

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References


Silvia Bravo, Marta Pesa (2015). "El fenómeno de difracción en la Historia de la óptica y en los libros de texto: reflexiones sobre sus dificultades de aprendizaje". Investigações em Ensino de Ciências. 79-90.

Blanco Laserna D. (2015). "Luz y ondas. Huygens: la luz como propagación ondulatoria". Arbor, 191 (775): a263.doi: http://dx.doi.org/10.3989/arbor.2015.775n5002.

Ultima revisión 19 de Abril 2020.

Camacho Basilio G., Aguilar Soto G., Carrada Legaria R. (2004). "Manual de proyectos en óptica". 87-92.

L. Pamplona, A. Calvo, C. Molina, “Development of an experimental module of ligth diffraction for a physics laboratory remotely controlled”, Prospectiva, Vol 15, N° 1, 100-111, 2017.

Cortes Osorio, Jimy Alexander; Chaves Osorio, José Andrés; Mendoza, Jairo Alberto, “Estudio de la difracción de Fraunhofer de una ranura simple mediante tratamiento digital de imágenes” Scientia Et Technica, vol. 18, núm. 1, abril, 2013, pp. 293-302




DOI: https://doi.org/10.31349/RevMexFisE.18.50

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Revista Mexicana de Física E

ISSN: 2683-2216 (on line), 1870-3542 (print)

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