Efectos del desorden estructural sobre el cambio en el índice de refracción de un sistema δ-dopado simple en GaAs

Abstract

Partiendo de la teoría de masa efectiva y el modelo de Thomas-Fermi (TF) se ha establecido el perfil de potencial para un sistema tipo delta-dopado simple en Arseniuro de Galio (GaAs) tipo n. Resolviendo la ecuación de Schrödinger asociada al sistema, se han calculado los autovalores y las autofunciones del perfil de potencial, determinando así su estructura electrónica. Con ayuda de la teoría de Matriz Densidad se ha determinado el cambio en el índice de refracción (CIR) lineal y no lineal del sistema. De tal manera que, añadiendo un término de desorden en el sistema (ζ), es posible calcular numéricamente los cambios en la estructura electrónica y las propiedades ópticas no lineales. Se ha determinado que con valores de ζ alrededor del 10% asociado a la densidad de impurezas (N_2D), el cambio en el índice de refracción lineal y no lineal no sufre cambios significativos. Por otro lado, cuando se incrementa el desorden en la densidad de impurezas introducidas en el material semiconductor, el comportamiento de la propiedad óptica se pierde por completo. Finalmente, notamos que al introducir desorden en la intensidad del laser, la propiedad óptica no sufre cambios. El presente estudio teórico podría predecir el efecto del desorden estructural sobre el comportamiento del CIR en los dispositivos basados en delta dopados al momento de su síntesis.

Starting from effective mass theory and the Thomas-Fermi (TF) model, the potential profile for a simple delta-doped system in n-type Gallium Arsenide (GaAs) has been established. By solving the Schrödinger equation associated with the system, the eigenvalues and eigenfunctions of the potential profile have been calculated, thus determining its electronic structure. So, with the Density Matrix theory, the change in the linear and nonlinear refractive index (CRI) of the system have been determined. In By introducing a disorder term in the system (ζ), it is possible to calculate numerically the changes in the electronic structure and nonlinear optical properties. Here, it has been determined that with ζ values around 10% associated with the density of impurities (N_2D), the change in the linear and nonlinear refractive index does not undergo significant changes. On the other hand, On the other hand, as the disorder in the impurity density introduced into the semiconductor material increases, the optical property behavior is completely lost. Finally, we note that when introducing a disorder term in the laser intensity, the optical properties do not change significantly. This theoretical study could predict the effect of structural disorder on the behavior of CRI in delta-doped devices during their synthesis.