Uso de un osciloscopio para medir la longitud de onda de un diodo láser por difracción de la luz

Authors

  • J. M. Alvarado Reyes Facultad de Ciencias, UNAM Ciudad Universitaria, Av. Universidad #3000
  • A. Santos Aguilar Departamento de Física, Facultad de Ciencias UNAM,
  • C. M. S. Reimer López Departamento de Física, Facultad de Ciencias UNAM,

DOI:

https://doi.org/10.31349/RevMexFisE.18.50

Keywords:

Difracción, Osciloscopio, Longitud de onda.

Abstract

El estudio de la refracción de la luz es un fenómeno estudiado en los laboratorios de óptica de la carrera de física e ingeniería y profesiones afines. El estudio, la instrumentación y la técnica han variado muy poco desde hace décadas, por consiguiente, el error de medición sigue siendo los mismos. Entre las variables que se miden directamente durante el desarrollo y estudio de dicho fenómeno se encuentran: La distancia entre la rejilla de difracción y la pantalla donde se proyecta el fenómeno de difracción (D), una segunda medida es la longitud entre un máximo de intensidad de luz hasta donde comienza a incrementar la intensidad del segundo punto luminoso consecutivo (y), y una tercera variable es la medición indirecta del ancho de la rejilla de difracción (a). De los parámetros mencionados es la distancia y la que ocasiona mayor incertidumbre en el resultado dado que esta variable es dependiente del observador o experimentador. En este trabajo se presenta una propuesta innovadora en donde este valor es posible evaluarlo directamente de una gráfica cuyos datos son adquiridos empleando un osciloscopio; los resultados obtenidos mediante el procedimiento descrito en el presente trabajo proporcionan además de resultados con menor incertidumbre, muestran el comportamiento de intensidades de la luz difractada.

Author Biography

J. M. Alvarado Reyes, Facultad de Ciencias, UNAM Ciudad Universitaria, Av. Universidad #3000

José Manuel Alvarado Reyes. Nació en la ciudad de México el  27 de Octubre de 1964. Doctor en Ingeniería Procesamiento digital de señales  por la UNAM. Desde 1994 ha laborado en el laboratorio de acústica de la facultad de Ciencias de la misma universidad, en el área de electrónica. Su especialización en la adquisición y procesamiento de señales le han permitido incidir en diferentes áreas de conocimiento como la Biología, la Física, las Ciencias de la Tierra y la Física Biomédica; así como en temas relacionados con la óptica, la electrónica, la acústica, el electromagnetismo y el ultrasonido. Ha escrito varios artículos relacionados con las señales y sus aplicaciones. Sus áreas de especialización lo persuadieron a dedicarse al estudio de las Oscilaciones analizando ondas propagándose en medios sólidos, fluidos y gaseosos. Desde 2015, se ha dedicado al diseño y construcción de dispositivos de infrasonido, ultrasonido y electromagnetismo, ha desarrollado varios proyectos eléctricos, electrónicos y mecánicos, que han contribuido al entendimiento de las oscilaciones de forma clara y sencilla.

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Ultima revisión 19 de Abril 2020.

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Published

2021-01-04

How to Cite

[1]
J. M. Alvarado Reyes, A. Santos Aguilar, and C. M. S. Reimer López, “Uso de un osciloscopio para medir la longitud de onda de un diodo láser por difracción de la luz”, Rev. Mex. Fis. E, vol. 18, no. 1 Jan-Jun, pp. 50–55, Jan. 2021.