Preparation and characterization of microcrystalline Si and Ge thin films

Most read articles by the same author(s)

• J.R. Martínez, F. Ruiz, J.A. De la Cruz-Mendoza, P. Villaseñor-González, J. González-Hernández, M.M. González-Chávez, ., L. Valle-Aguilera, Structural evolution of silica-gel in the late stages of the gelation process , Revista Mexicana de Física: Vol. 44 No. 6 (1998): Revista Mexicana de Física.
• J. González-Hernández, R. Asomoza, ., A. Re, es-Mena., Optical characterization of a-C:H thin films , Revista Mexicana de Física: Vol. 34 No. 2 (1987): Revista Mexicana de Física.
• J.F. Pérez-Robles, S. Jiménez-S, oval., J. González-Hernández, Yuri V. Vorobiev, J.R. Parga Torres, ., M.A. Hernández-L, averde., Phonon spectra in Si02 glasses , Revista Mexicana de Física: Vol. 45 No. 2 (1999): Revista Mexicana de Física.
• E. Huerta, J.E. Corona, A.I. Oliva, F. Avilés, J. González-Hernández, Universal testing machine for mechanical properties of thin materials , Revista Mexicana de Física: Vol. 56 No. 4 (2010): Revista Mexicana de Física.